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microbrain非破壞檢測(cè)儀器的特點(diǎn)
檢測(cè)透明薄膜中的透明缺陷
透明薄膜缺陷類型與檢測(cè)難度的關(guān)系
數(shù)字圖像的高速計(jì)算
配備使用數(shù)字圖像的分析功能
配備基于數(shù)字化的測(cè)量功能
ZEROS CUSTOM 系列旨在成為透明薄膜的綜合檢查機(jī),并且在政府(*1)的支持下研發(fā),除了已經(jīng)成為重要課題的感官檢查自動(dòng)化之外,現(xiàn)有檢查能力。本產(chǎn)品中使用的 ZEROS 濾光片和區(qū)域傳感器的高速圖像處理系統(tǒng)有助于提高透明薄膜制造的質(zhì)量、節(jié)省空間和降低成本。(*2)
*1 戰(zhàn)略性基礎(chǔ)技術(shù)推進(jìn)支持項(xiàng)目(經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)?。?br style="margin: 0px; padding: 0px;"/>*2 根據(jù)薄膜材料和缺陷形狀,可能需要調(diào)查和考慮。
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“ZEROS技術(shù)"是我公司發(fā)明的一種透明缺陷檢測(cè)方法??梢运查g檢測(cè)出只有專家用肉眼或用顯微鏡才能看到的無(wú)色透明缺陷,并確定缺陷的形狀和面積。
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與傳統(tǒng)線傳感器使用的信號(hào)振幅轉(zhuǎn)換方法不同,面?zhèn)鞲衅魍ㄟ^圖像數(shù)據(jù)的運(yùn)算處理來(lái)檢測(cè)缺陷,具有多種優(yōu)勢(shì)。
常規(guī)缺陷 | ZEROS缺陷 | ||
用定向光照射透明缺陷并通過改變折射率將其可視化 | 使用 ZEROS 過濾器可視化透明薄膜中的透明缺陷 | ||
將光強(qiáng)度(亮度)的變化轉(zhuǎn)化為電信號(hào) | 將可視化圖像轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像 | ||
缺陷檢測(cè)具有閾值的電量變化 | 處理數(shù)字圖像以檢測(cè)透明缺陷 | ||
* 還可以對(duì)缺陷進(jìn)行量化和量化,識(shí)別缺陷(感官檢驗(yàn))。 |